Diagnóstico e soluções de falhas em fontes chaveadas: Uma análise técnica aplicada
Resumo
As fontes chaveadas (SMPS) são essenciais na alimentação de dispositivos eletrônicos modernos, oferecendo elevada eficiência na conversão de energia e maior proteção para circuitos sensíveis. No entanto, falhas no funcionamento desses sistemas são comuns e podem comprometer a integridade de todo o equipamento. Entre os defeitos recorrentes destacam-se capacitores eletrolíticos estufados, MOSFETs em curto, resistores de partida abertos, diodos danificados e problemas no circuito de controle. Este artigo tem como objetivo identificar as causas mais comuns dessas falhas e propor soluções práticas baseadas em experiências técnicas e literatura especializada. Além disso, apresenta-se uma metodologia de diagnóstico estruturada com checklist e fluxograma, visando facilitar a rotina de técnicos e estudantes. Através da análise de casos reais e referências técnicas, conclui-se que, com ferramentas básicas e conhecimento adequado, é possível recuperar fontes chaveadas com segurança e eficiência, desde que se sigam procedimentos sistemáticos de inspeção e teste.
